การวัดอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ตอน วัดไดโอดรั่ว และ วัดทรานซิสเตอร์รั่ว ใช้มัลติมิเตอร์แบบเข็ม

ความสามารถหลักของมัลติมิเตอร์แบบเข็มที่เหนือกว่ามัลติมิเตอร์แบบดิจิตอลคือมัลติมิเตอร์แบบเข็มสามารถจ่ายกระแสที่สายวัดเพื่อทดสอบอุปกรณ์ดีเสียได้มากกว่ามัลติมิเตอร์แบบดิจิตอล   การขึ้นและไม่ขึ้นของเข็ม การเปลี่ยนแปลงที่ค่อยๆเพิ่มหรือค่อยๆลดสังเกตได้ง่ายในการปรับจูนค่าทางไฟฟ้า    ในการวัดคุณภาพและสภาพการนำกระแสของไดโอดใช้สเกล LI  ซึ่งแสดงกระแสที่ผ่านจุดวัดเมื่อใช้ย่านวัด R  ถ้าวัดไดโอดก็หมายถึงกระแสที่ผ่านไดโอด ถ้าใช้วัด LED หมายถึงกระแสที่ LED ใช้  สังเกตทีรูปสเกล  LI  มีค่า   0-15  การอ่านค่าต้องดูว่าเราใช้ย่านวัด R เรนท์ไหน   เช่น

ใช้ย่านวัด  R x1      มีค่าเต็มสเกล 150mA    แต่ละขีดมีค่า 10mA

ใช้ย่านวัด  R x10    มีค่าเต็มสเกล 15mA     แต่ละขีดมีค่า 1mA

ใช้ย่านวัด  R x100   มีค่าเต็มสเกล 1.5mA   แต่ละขีดมีค่า 0.1mA

ใช้ย่านวัด  R x1K   มีค่าเต็มสเกล 150uA    แต่ละขีดมีค่า 10uA


                                           สเกล LI แสดงกระแสที่ผ่านจุดวัด หน่วย uA mA


      ย่านวัด R  และกระแสที่จ่าย Rx1 = 150mA ,  Rx10 = 15mA , Rx00=1.5mA  Rx1K = 150uA


ขั้นตอนวัดไดโอดรั่ว

1. ปรับไปที่ย่านวัด R x 10  เนื่องจากย่านนี้อ่านค่าง่ายค่าเต็มสเกลคือ 15mA แต่ละขีดมีค่าเท่ากัน 1mA 

อาจปรับไปที่ย่านวัด  Rx100   ,  Rx1K ก็ได้เพื่อทดสอบที่ค่ากระแสต่ำลง

2. ปรับซีโรห์โอห์มก่อนวัด สำคัญมากเพื่อให้ผลการวัดถูกต้อง

3. ต่อแบบไบอัสตรงจากนั้นอ่านค่ากระแสจากสเกล LI  จะเป็นค่ากระแสฟอร์เวิร์ส IF 

และต่อแบบไบอัสกลับจากนั้นอ่านค่า จากสเกล LI  จะเป็นค่ากระแสรีเวิร์ส Ir

4. พิจารณาผลการวัด ถ้าดี ต้องได้ค่าใกล้เคียงตามสเปคใน Datasheet 

                          Diode เบอร์   FR207 มีค่า Ir 5uA -100uA ค่า Max  ตาม Datasheet


วัดไดโอด   ໄດໂອດ    ການວັດ   DIODE test
                     ต่อไบอัสตรงให้ไดโอด อ่านค่า IF ได้ประมาณ 12mA เมื่อใช้กระแสทดสอบ 15mA


                    ต่อไบอัสกลับให้ไดโอดได้ค่า Ir วัดไม่ขึ้นเพราะกระแสค่าน้อยมากๆ
                    ตามสเปคระบุไดโอดเบอร์นี้มีค่า  Ir  5uA -100uA ค่า Max วัดได้ไม่เกินสเปคคือไดโอดดี
                    อาจทดสอบเพิ่มโดยใช้ย่านวัด  R x100 และ  Rx1K



วัดทรานซิสเตอร์รั่ว ใช้สเกล I CEO

ให้ดูที่สเกลของมิเตอร์จะมีสเกล I CEO อยู่เส้นเดียวกับสเกล LI เพียงแต่อยู่คนละด้าน วิธีการอ่านก็เหมือนกับการอ่านค่าสเกล LI ที่กล่าวถึงแล้วด้านบน ทรานซิสเตอร์ขนาดเล็กและขนาดกลางใช้ Rx10 ( 15mA ) ในการทดสอบ ส่วนทรานซิสเตอร์ตัวใหญ่ ( Power Transistor ) ใช้   Rx1 ( 150mA)    I CEO คือค่ากระแสรั่วระหว่างขา C และขา E โดยไม่มีกระแสเบส ( Open Base ) ใช้ทดสอบรอยต่อของทรานซิสเตอร์ว่ายังมีสภาพปกติหรือไม่


                                                                  สเกล   ICEO  และ  LI  
สเกล  ICEO  ใช้วัดทรานซิสเตอร์   สเกล   LI ให้วัดอุปกรณ์พวกไดโอด   LED 

            ขาทรานซิสเตอร์เบอร์  TIP35C  ชนิด NPN  มีกระแส  Iceo  1mA ค่า Max  ตาม Datasheet


ขั้นตอนการวัดทรานซิสเตอร์รั่ว ใช้สเกล I CEO

1. เลือกย่านวัดที่เหมาะสม  ทรานซิสเตอร์ขนาดเล็กและขนาดกลางใช้ Rx10 ( 15mA ) ในการทดสอบ ส่วนทรานซิสเตอร์ตัวใหญ่ ( Power Transistor ) ใช้   Rx1 ( 150mA)  ในการวัดสาธิตเป็นกาวัดทรานซิสเตอร์เบอร์ TIP35C  NPN ซึ่งเป็นทรานซิสเตอร์ตัวใหญ่จึงใช้ Rx1

2. ปรับซีโรโอห์มก่อนวัด เพื่อให้ผลการวัดถูกต้อง

3. ต่อสายวัดโดยถ้าเป็นทรานซิสเตอร์ชนิด NPN  สายสีดำต่อขา C และสายสีแดงต่อขา E    ถ้าเป็นทรานซิสเตอร์ชนิด PNP   สายสีดำต่อขา E  และสายสีแดงต่อขา C

   

วัดทรานซิสเตอร์    transistor  test
                 ทดสอบกระแสรั่ว Iceo  ของ  Power Transistor  เบอร์  TIP35C  ชนิด NPN


4. พิจารณาผลการวัด  ทรานซิสเตอร์ชนิดซิลิกอนมีค่า  Iceo ต่ำมากวัดแล้วเข็มจะไม่ขึ้นเลยมิเตอร์วัดไม่ได้เพราะค่าน้อยมาก   ส่วนทรานซิสเตอร์ชนิดเจเมเนียมมีกระแสรั่วเล็กน้อยประมาณ 0.1-5mA  สำหรับทรานซิสเตอร์เจเมเนียมขนาดเล็กขนาดกลาง  ( Power Transistor  1mA -5mA )

สำหรับทรานซิสเตอร์ที่วัดแล้วได้ค่า Iceo เกินสเปคคือรั่วระหว่างขา C และขา E  หรืออาจวัดแบบสุ่มแล้วเข็มขึ้นมากได้ค่า Iceo สูงคือทรานซิสเตอร์รั่ว การวัดนี้เป็นการวัดเพื่อเช็คสภาพอุปกรณ์ดีเสียเบื้องต้นโดยใช้มัลติมิเตอร์ซึ่งเป็นเครื่องวัดมาตรฐานสำหรับงานซ่อมทั่วไป


เลือกเรื่องถัดไปที่น่าสนใจอ่านต่อ  
เช่น  การวัดอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์   มี  17 ตอน